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ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光学式膜厚計

更新时间:2025-04-23点击次数:62
ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光学式膜厚計
ASAHI-SPECTRA朝日分光OMD-1000光学式膜厚計


增强的波长范围 以前的型号是滤光片型波长选择,但新产品采用了我们经过验证的光谱仪,现在可以选择任何波长。 薄膜厚度变化的信号从电压输出更改为与个人计算机兼容的数字输出,控制机构由个人计算机的命令控制,而不是手动作。 此外,通过I/F直接连接个人计算机的薄膜测厚仪本体进行控制,因此没有其他制造商的控制器,因此是一个非常紧凑的系统。 长处 紧凑的设计,带有集成光谱仪 提高抗噪性,实现可靠的膜厚监测(静电放电测试耐压 ±5kV) 可通过 PC 的命令自动控制 控制器内置于接收器本体中,以实现高性价比。

型式OMD-1000 型
光谱仪类型Czerny-Turner单色
波长范围保修范围:380~900nm工作
范围:350~1100nm
波长分辨率surito0.5mm:4.2nm[546nm]
surito1.0mm:8.3nm[546nm]
波长精度±1.0纳米
最小波长馈源0.1 纳米
外部控制RS232C 控制器
外部输出端子DC0~2V(满量程)
采样间隔100ms 或更长
静电放电测试耐压±5 kV(实际电压为 8 kV)
光源12V100W 卤素灯
光量安定性±0.1%/h 以下
输入电压AC100V 50/60Hz
允许的输入电压AC85~132V 交流
视在功率340VA 或更低
使用环境温度:10~35°C,湿度
:20~80%


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