增强的波长范围 以前的型号是滤光片型波长选择,但新产品采用了我们经过验证的光谱仪,现在可以选择任何波长。 薄膜厚度变化的信号从电压输出更改为与个人计算机兼容的数字输出,控制机构由个人计算机的命令控制,而不是手动作。 此外,通过I/F直接连接个人计算机的薄膜测厚仪本体进行控制,因此没有其他制造商的控制器,因此是一个非常紧凑的系统。 长处 紧凑的设计,带有集成光谱仪 提高抗噪性,实现可靠的膜厚监测(静电放电测试耐压 ±5kV) 可通过 PC 的命令自动控制 控制器内置于接收器本体中,以实现高性价比。
型式 | OMD-1000 型 |
光谱仪类型 | Czerny-Turner单色 |
波长范围 | 保修范围:380~900nm工作 范围:350~1100nm |
波长分辨率 | surito0.5mm:4.2nm[546nm] surito1.0mm:8.3nm[546nm] |
波长精度 | ±1.0纳米 |
最小波长馈源 | 0.1 纳米 |
外部控制 | RS232C 控制器 |
外部输出端子 | DC0~2V(满量程) |
采样间隔 | 100ms 或更长 |
静电放电测试耐压 | ±5 kV(实际电压为 8 kV) |
光源 | 12V100W 卤素灯 |
光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
输入电压 | AC100V 50/60Hz |
允许的输入电压 | AC85~132V 交流 |
视在功率 | 340VA 或更低 |
使用环境 | 温度:10~35°C,湿度 :20~80% |