PA/WPA/VRG‑100 机型选型对比，光子晶格二维应力测量设备采购要点

Photonic‑Lattice 光子晶格二维双折射应力仪，依靠光子晶体偏振阵列芯片实现单次曝光全域应力成像，型号分为 PA 系列、WPA 宽量程系列、NIR 近红外系列、VRG‑100 VR 专用机型。选型不能只对比像素指标，需要结合被测材料相位差量级、样品尺寸、检测波段、应用场景（实验室研发 / 产线质检）综合评估，选型不当会出现相位缠绕、测量失效、视场无法覆盖工件等问题。

一、核心机型区分：相位差量程是第一选型依据

PA 系列（低相位差高精度）

• 量程：0‑130nm，单 520nm 绿光光源，500 万高像素，重复精度 σ＜0.1nm

• 适配样品：盖板玻璃、蓝宝石、半导体光掩模、光学玻璃透镜，热处理、激光加工后低应力工件

• 局限：不能用于高应力树脂件，超出量程会发生相位缠绕，数据错乱

WPA 系列（宽量程多波长）

• 量程：0‑3500nm，多波长算法，解决相位缠绕问题

• 适配样品：PC、亚克力注塑镜片、导光板、光学薄膜等高应力高分子材料

• WPA‑200 标准分辨率；WPA‑300 高分辨率版本，捕捉细微应力分布，适合精密树脂部件分析

NIR 近红外系列（PA‑NIR / WPA‑NIR）

• 850nm 近红外光源，可见光不透光、红外可透过样品

• 适用：深色树脂、LiDAR 光学元件、黑色传感器盖板等特殊工件

VRG‑100（Pancake VR 组件专用）

• 专门针对 VR 镜头 + QWP 波片复合组件；除相位差、光轴角度，额外输出圆偏振度、椭圆率，评估波片贴附偏移，RGB 三波段检测。

二、视场尺寸选型，匹配样品实际检测区域

1. 标准视场：适合中小尺寸镜片、小基板；

2. L 大视场型号：PA‑300‑L、WPA‑200‑L，适配大尺寸盖板、车载玻璃、A3 规格基板，一次成像覆盖大工件

3. XL 超大视场：汽车玻璃、大尺寸晶圆检测；

4. 显微微区选配：搭配显微镜头，针对局部微区应力集中点位观测。

选型原则：被测有效区域尽量落在视场内部，不要依靠拼接去测远大于视场的小样品，会降低检测效率。

三、成像像素与分辨率权衡

1. PA‑300 五百万像素，适合低相位差精密检测，细节表现优异；

2. WPA‑200 为标准像素，满足树脂整体应力分布；需要捕捉细微应力梯度，优先升级 WPA‑300 高分辨率版本。

不要盲目追求高像素，高像素机型数据量大，检测与导出耗时会相应增加。

四、硬件选配模块选型要点

1. XY 自动扫描载台样品尺寸大于设备视场，需要大面积拼接扫描，产线批量检测优先选配；实验室少量样品可手动平台。注意自动载台不要私自加注润滑油，油气会污染光学腔体。

2. 样品夹具与真空吸附台薄软薄膜、大尺寸基板，选配真空吸附台，避免夹持引入人为机械应力；普通硬质玻璃使用标准机械夹具即可。

3. 原厂标准校准片必须配套采购，用于日常零点校验、设备性能复核，是长期保证精度的关键配件，不可省略。

五、软件功能确认

1. 基础版本：相位差云图、光轴角度、截面曲线、ROI 区域统计、CSV / 图片导出；

2. 应力换算模块：可将相位差换算成等效应力 MPa，需要确认选配；

3. OK‑NG 自动判定：产线质检场景，需要开启自动阈值判定，支持外部通讯联动；

4. 数据归档：研发场景需要多组样品对比、批次数据存储功能。