
产品简介
MITUTOYO三丰 物镜 全视场清晰主打**长工作距离 + 全视场平像 + 优异色差校正**,区别普通生物物镜;可搭配 WLI-Unit-003 白光干涉测头做 3D 形貌测量,也用于尺寸测量、外观缺陷质检
MITUTOYO三丰 物镜 全视场清晰
MITUTOYO三丰 物镜 全视场清晰
主打长工作距离 + 全视场平像 + 优异色差校正,区别普通生物物镜;可搭配 WLI-Unit-003 白光干涉测头做 3D 形貌测量,也用于尺寸测量、外观缺陷质检
0.01N(1gf)超低恒定测力轻柔接触,几乎不会压薄、压伤薄膜、光学镜片、软胶、晶圆;同系列还有 0.15N /1N 出厂可选版本,测力固定出厂标定,不可现场自行切换。
超高分辨率与精度分辨率 0.01/0.1/1μm 三档切换;测量行程 0~50mm;精度 (0.5+L/100)μm,L 单位 mm;重复精度 0.02μm 以内;光栅线性编码器,读数稳定。
电动主轴,自动触停电机驱动测杆下行,测头碰到工件立即停止,恒定测力采集;支持最大值 / 最小值 / 振幅(跳动)测量,适合翘曲件、薄片波动检测。
温稳结构设计测杆采用低膨胀特种材料,工作台为陶瓷台面,防锈、低热形变,降低环境温度带来的测量误差,维护简单。
数据输出能力RS232 接口,搭配 VLink / SensorPak 软件,电脑采集、SPC 统计、公差判定,可接脚踏开关实现快速批量检测。
一体式整机主机 + 显示面板一体,无需单独搭配计数器;对比分体 VL-50S-B,适合质检室、离线抽检,不用集成设备机架。
光学行业(你前面关注的物镜 / 镜片配套检测):光学镜片、滤光片、透镜基底厚度、台阶差,防止测头压伤光学镀膜
薄膜 / 功能膜:光学膜、PET 薄膜、软基材厚度测量
半导体:硅片、引线框架厚度、翘曲高度检测
塑胶 / 橡胶:硅胶垫片、薄膜按键、软塑料件,避免压入形变导致厚度测不准
医疗耗材:薄型医用膜、垫片、注射器零部件
精密电子:薄金属弹片、PCB 薄板、电池极片厚度、微小台阶高度、平面跳动检测