产品简介

OTSUKA大塚电子 粒径分析系统 上海
一体化纳米胶体物性表征设备，面向科研、药企研发、优良材料企业；区别于普通单功能粒度仪，主打**溶液颗粒 + 固体平板表面 Zeta 电位一体化测试**，兼顾粒径、电位、分子量、微流变多参数，

OTSUKA大塚电子   粒径分析系统  上海

OTSUKA大塚电子   粒径分析系统  上海

一体化纳米胶体物性表征设备，面向科研、药企研发、优良材料企业；区别于普通单功能粒度仪，主打溶液颗粒 + 固体平板表面 Zeta 电位一体化测试，兼顾粒径、电位、分子量、微流变多参数，

特点 & 优势

1. 测量范围宽：粒径 0.6 nm～10 μm；分子量 340～2×10⁷；可测浓度从极稀到最高 40% 高浓度体系

2. 高盐体系优势突出：支持高盐环境下平板 / 薄膜样品表面 Zeta 电位测试，解决传统仪器高盐条件下电极干扰难题，适合生物缓冲液、电解液样品

3. 多角度光散射：多角度检测，分辨多分散、多峰样品，比单角度 DLS 分辨率更强

4. 温控与温度梯度：0～90℃连续控温，温度梯度扫描，可做蛋白变性、相变过程研究

5. 微量样品友好：低 3 μL 进样，适合珍贵蛋白、外泌体、生物制剂样品

6. 功能模块化扩展：标配粒径 + Zeta 电位；可选：分子量、粒子浓度、微流变、凝胶网络解析、荧光滤片；ELSZneo SE 版本可按需选配，控制预算

7. 电渗流实测校正：自动实测并校正电渗流，Zeta 电位结果更稳定；支持选配 FDA 21CFR Part11，满足药企合规审计要求

应用场景

• 生物医药：蛋白、多肽、脂质体、纳米制剂 DDS、外泌体、VLP、疫苗佐剂，处方稳定性、聚集趋势评价、缓冲条件筛选

• 半导体：CMP 抛光浆料、晶圆表面改性、表面吸附机理研究、优良封装表面电位表征

• 新能源材料：碳纳米管、催化剂、燃料电池膜、纳米分散浆料

• 精细化工 / 日化涂料：乳液、颜料、陶瓷溶胶、色浆分散与团聚控制

• 高分子、界面化学、高校科研院所胶体与表面方向课题