产品简介

OTSUKA大塚 多通道光谱仪 高动态
光纤式高速多通道光谱仪，兼顾**实验室研发 + 产线在线集成**两大方向；非接触、快速分光检测，可做光谱、色度、透过、反射、荧光、薄膜膜厚解析。

OTSUKA大塚   多通道光谱仪  高动态

OTSUKA大塚   多通道光谱仪  高动态

光纤式高速多通道光谱仪，兼顾实验室研发 + 产线在线集成两大方向；非接触、快速分光检测，可做光谱、色度、透过、反射、荧光、薄膜膜厚解析。

特点 & 优势

1. 杂散光极低：杂散光相比前代降低至约 1/5，紫外、弱光测试优势明显大塚電子

2. 高动态范围 HDR，可同时测强光与微弱发光样品；曝光 5 ms～65 s，高速瞬态采集或长时间弱光测量均可

3. 内置扰模光纤（Scramble Fiber），大幅提升光纤耦合测量的重复性，光纤弯曲、位置变动时结果稳定

4. 波长版本丰富：UV-Vis、Vis-NIR、近红外 900–1600nm 可选，含 InGaAs 近红外检测器

5. 体积紧凑轻量化，比老机型体积缩减约 60%；支持 USB+LAN，远程程控，极易嵌入自动化设备

6. 可同步光谱、色度、膜厚、相位差，多层薄膜解析能力强

应用场景

• 半导体光学膜、光学镀膜、滤光片、AR 膜膜厚与光学常数 nk 检测

• 显示行业：背光、MiniLED、OLED、光源光谱、色坐标、亮度、色偏检测

• 光学材料：玻璃、薄膜、涂层、胶体的透射 / 反射光谱

• 荧光、PL 光致发光、等离子体发光、光源质检

• 日化、薄膜包装、油墨颜料颜色管控

• 产线在线 in‑line 监控：镀膜机、涂布机、研磨终点监控、多点同步监测

• 高校研究所光学、光化学、材料表征实验