原装现货日本SEN紫外线灯管SUV90US-43

2024-11-04 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了日本SEN紫外线灯管SUV90US-43用于光表面清洗：使用短波长185nm，254nm对物体表面进行UV清洗，改质。由石英玻璃或特种石英玻璃制成。有SEN、EYE、GS、HERAEUS等多个品牌，也可根据客户的特殊需要订做。干式清洗领域：LCD用玻璃的精密清洗半导体/电子部件的精密度清洗液晶玻璃清洗表面改质领域：LCD用玻璃的表面涂层前处理树脂材料表面的接着前处理其他领域：金属表...

日本进口SANKO三高电磁模拟涂层测厚仪SL-5P

2024-11-04 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SANKO三高电磁模拟涂层测厚仪SL-5P它用于测量细管、弯头中的薄膜等，例如无法接近的内表面、底部和底部表面。它具有探头结构，具有一个小型的两极测量杆和一个细长的导轨。测量范围0~1毫米测量精度±2μm或读数的±5%最小测量管径φ20权力AA电池（1.5V）×8，交流适配器工作温度0~40°C（非冷凝）飞机尺寸190（宽）×90（高）×120（深）毫米...

北崎供应SANKO三高砂浆水分仪PM-101

2024-11-04 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SANKO三高砂浆水分仪PM-101直流电阻。上限报警，平均值显示特征砂浆、混凝土和塑料的水分测量、控制和检查。测量不受密度、埋地钢筋等的影响。测量范围1~15%1~100（MC模式）模式切换砂浆和混凝土，石膏，MC模式平均值显示显示最多20个数据的平均值（关闭电源时删除）显示分辨率0.1%1（MC模式）显示方法LCD显示屏，带保持功能，电池电量指示闹钟设置上限设定1.5~14.5...

SHASHIN写真化学 进口供应红外吸收涂层测厚仪

2024-11-02 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学进口供应红外吸收涂层测厚仪使用光吸收法可以测量半透明片材、低反射膜、有机硅等的厚度，这是使用光学干涉的反射光谱膜测厚仪难以做到的。这是一种可以通过显微图像光谱以高分辨率可视化薄膜厚度分布的薄膜厚度计。可以以10nm或更低的高分辨率测量显微镜视野内某个区域内透明多层薄膜的厚度分布。由于它是一种使用光学干涉法的反射光谱方法，因此很容易获得0.1nm或更小的膜厚精度...

SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪

2024-11-02 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪红外透射膜厚度监测器可测量电池隔膜等半透明片材、黑色光刻胶等低反射膜和硅的厚度。它是一种红外吸收涂层测厚仪，可应用于从实验室级别到生产过程中的在线检查的所有情况。它是一种红外薄膜测厚仪，采用由紧凑型镜面探头组成的透射光学系统，可通过同时测量100多个波长的光谱仪，准确测量薄膜厚度、密度、成分等多个参数。1测量半透明片材、低反射膜、硅等的厚...

日本供应SHASHIN写真化学成像图层膜厚仪

2024-11-02 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学成像图层膜厚仪这是一种可以通过显微图像光谱可视化透明多层膜的膜厚分布的膜厚计。由于薄膜厚度是通过光学干涉法计算的，因此薄膜厚度分布可以以0.1nm或更低的分辨率以3D形式显示。在显微镜视场中测量任意区域的薄膜厚度和薄膜质量分布，并以3D形式显示分布分辨率与可见光波长光学涂层测厚仪相当波长范围从450nm到750nm，可以1nm的增量使用与反射膜厚度监视器相同的...

SHASHIN写真化学映射涂层测厚仪进口供应

2024-11-02 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学映射涂层测厚仪映射涂层测厚仪能够在最大300mm的晶圆的所有表面上自动映射膜厚测量。自动对位功能和使用具有高平整度的晶圆卡盘可实现可靠的薄膜厚度测量。此外，它可以安装在半导体制造设备的负载端口，以在保持清洁度的同时管理制造设备上的薄膜厚度。1能够对最大300mm的晶圆的整个表面进行自动涂层厚度映射测量2自动对位功能3通过使用具有高平整度的晶圆卡盘，提高晶圆表面...

北崎供应写真化学SHASHIN反射涂层厚度监测仪

2024-11-02 #2024年新品发布会#日期：2024年9月29日时间：8：30-18：30近期我司新推出升级了写真化学SHASHIN反射涂层厚度监测仪反射涂层厚度监测仪是一种光学干涉反射光谱涂层测厚仪，它使用微型反射探头，可应用于从实验室级别到生产过程中的在线检查的所有情况。它具有出色的可维护性，可用于集成到工艺设备和生产线管理应用中。最多可同时测量9种类型的透明膜。它具有出色的可维护性，可用作工艺设备或生产线管理应用的集成。例如，在沉积、抛光和蚀刻过程中，它可以用作在线监视器或终点监视器...