# 2024年新品发布会#
日期:2024年9月29日
时间:8:30-18:30
近期我司新推出升级了 SHASHIN写真化学 进口供应红外吸收涂层测厚仪
使用光吸收法可以测量半透明片材、低反射膜、有机硅等的厚度,这是使用光学干涉的反射光谱膜测厚仪难以做到的。
这是一种可以通过显微图像光谱以高分辨率可视化薄膜厚度分布的薄膜厚度计。
可以以 10 nm 或更低的高分辨率测量显微镜视野内某个区域内透明多层薄膜的厚度分布。
由于它是一种使用光学干涉法的反射光谱方法,因此很容易获得 0.1nm 或更小的膜厚精度。