SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪

# 2024年新品发布会#

日期：2024年9月29日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了SHASHIN写真化学原装供应红外透射膜厚仪

红外透射膜厚度监测器可测量电池隔膜等半透明片材、黑色光刻胶等低反射膜和硅的厚度。 它是一种红外吸收涂层测厚仪，可应用于从实验室级别到生产过程中的在线检查的所有情况。

它是一种红外薄膜测厚仪，采用由紧凑型镜面探头组成的透射光学系统，可通过同时测量 100 多个波长的光谱仪，准确测量薄膜厚度、密度、成分等多个参数。

1测量半透明片材、

低反射膜、硅等的厚度，这在光学干涉测量法中是困难的

2微型光纤探头

由于使用了 30 毫米的小型反射探头，

它可以安装在设备或生产线的狭小空间内。

此外，由于探头仅通过

光纤连接到主机，因此具有出色的耐环境性。

3高速测量：

在

100 个点或更高处同时采样 950~1650 nm 的近红外波长

可实现短至 1 毫秒的高速采样。

可以在生产线上进行实时检测和测量。

由于干涉滤光片不旋转，因此具有出色的耐用性和可靠性。