OTSUKA大塚 智能膜厚计 微区薄膜光学检测设备，定位介于普通分光膜厚仪与椭偏仪之间；主打**微小图案区域膜厚 + 光学常数 n/k 解析**，兼顾研发、品控、产线在线监测；适合需要微区定点、面分布 mapping 扫描场景，性价比优于椭偏仪

OTSUKA大塚 膜厚计 监测仪 微区薄膜光学检测设备，定位介于普通分光膜厚仪与椭偏仪之间；主打**微小图案区域膜厚 + 光学常数 n/k 解析**，兼顾研发、品控、产线在线监测；适合需要微区定点、面分布 mapping 扫描场景，性价比优于椭偏仪

OTSUKA大塚 膜厚计 解析能力强 微区薄膜光学检测设备，定位介于普通分光膜厚仪与椭偏仪之间；主打**微小图案区域膜厚 + 光学常数 n/k 解析**，兼顾研发、品控、产线在线监测；适合需要微区定点、面分布 mapping 扫描场景，性价比优于椭偏仪

OTSUKA大塚 膜厚计 高速测量 微区薄膜光学检测设备，定位介于普通分光膜厚仪与椭偏仪之间；主打**微小图案区域膜厚 + 光学常数 n/k 解析**，兼顾研发、品控、产线在线监测；适合需要微区定点、面分布 mapping 扫描场景，性价比优于椭偏仪

OTSUKA大塚 膜厚计 微区微小光斑 微区薄膜光学检测设备，定位介于普通分光膜厚仪与椭偏仪之间；主打**微小图案区域膜厚 + 光学常数 n/k 解析**，兼顾研发、品控、产线在线监测；适合需要微区定点、面分布 mapping 扫描场景，性价比优于椭偏仪

OTSUKA大塚 多通道光谱仪 高动态 光纤式高速多通道光谱仪，兼顾**实验室研发 + 产线在线集成**两大方向；非接触、快速分光检测，可做光谱、色度、透过、反射、荧光、薄膜膜厚解析。